Дослідження особливостей залежності заряду перемикання від прямого струму для епітаксіальних p-i-n структур різних типів та розмірів

Також широко використовується рідинна епітаксія.

Епітаксіальні p-i-n структури можуть виготовлятися двома способами. Структури з товщиною бази 100 мікрометрів і вище виготовляються шляхом епітаксіального нарощування p+ шару на одну сторону і n+ шару на другу сторону високоомної підкладки, яка надалі виконує роль бази. Структури з тонкими базами виготовляють шляхом нарощування на товстій n+ або p+ підкладці тонкого високоомного базового шару, а потім p+ або n+ шари. У будь-якому випадку характерним для епітаксіального процесу є те, що профіль легування нарощуваних шарів однорідний, перехід від шару до шару різкий, не симетричний , гальмуюче поле в базі, яке присутнє в дифузійних структурах, відсутнє. Тому в режимі перемикання епітаксіальні структури поводяться як площинні сплавні діоди, тобто для них справедливі вирази (3.2),(3.7),(3.9).


4. Експерименти по визначенню заряду перемикання досліджуваних діодів


4.1 Експериментальна установка


Для виконання експериментальних робіт використовується установка, схема якої зазначена на рис 4.1


Рисунок 4.1 - Лабораторна установка для виміру заряду перемикання Qп і спостереження осцилограм напруги і струму при перемикання діода з прямого струму на зворотну напругу

Оскільки основним завданням роботи є вимірювання заряду перемикання, то всі вимірювання приводились при замкнутому ключі , та ключі  переведеному в положення А. В якості діодів  і  використовуються діоди КД510. Розраховані на максимально постійному прямому струмі 200 мА та на прямому імпульсному струмі 1,5 А.

Вимірювання заряду перемикання, як відомо, передбачає виведення накопиченого в досліджуваному діоді заряду в зовнішнє коло необмежено великим струмом при опорі зовнішнього кола близько "0". Наявність конденсатора  у вимірювальній схемі дійсно зводить опір зовнішнього кола в момент виведення накопиченого заряду практично до "0". Але за законом Ома струм у колі навіть при нульовому опорі зовнішнього кола не є нескінченим, а визначається внутрішнім опором джерела ЕРС, в нашому випадку це емітерний підсилювач - блок , з вихідним опором 50 Ом. Тому при максимальній вихідній напрузі 50 В, максимальний струм у колі не буде перевищувати 1 А, що узгоджується з параметрами досліджу вального діода.


4.2 Методика експерименту


Переводимо лабораторну установку в режим виміру заряду перемикання: ключ К1 в положення «ВКЛ», ключ К2 у положення «А».

Встановлюємо досліджуваний діод або p-i-n структуру.

Вибираємо таку частоту імпульсів зворотної напруги, щоб середній зворотній струм можна було виміряти з достатньою точністю.

Для інтервалу прямих струмів від 10 до 120 мА з кроком 10 мА вимірюємо зворотній середній струм та обчислюємо значення  за формулою:


.

Будуємо на комп’ютері за допомогою програми Advanced Grapher графік залежності заряду перемикання від прямого струму .

Виконуємо апроксимацію залежності .

Якщо лінія апроксимації (при ) перетинає вісь  не в нульовій точці, а при якомусь значенні , вносимо поправку на ці величини в таблиці значень.

За отриманими поправленими значеннями обраховуємо величину ефективного часу життя


,


будуємо графіки залежності  та відносної зміни часу життя


,


де  - час життя при початковому струмі діапазону вимірювань.


5. Отримані результати та їх аналіз


Експериментальні дані були отримані для вітчизняних діодів марки КД202, Д226Б, Д242Б та для p-i-n структур, отримані для заряду перемикання та часу життя (рис. 5.1).


Таблиця 5.1-Експериментальні данні

Прямий струм, мА

Середній зворотний струм,мкА, заряд перемикання, нКл та час життя, мкс


КД242 (f=160Гц)

КД202 (f=160Гц)

Д226 (f=5000Гц)


τττ






10

219

21,9

150

15

10

1

20

435

21,75

297

14,85

19

0,95

30

640

21,33

438

14,6

28

0,93

40

843

21,07

570

14,25

36

0,9

50

1033

20,66

696

13,92

44

0,88

60

1222

20,36

819

13,65

51

0,85

70

1399

19,98

933

13,33

58

0,83

80

1574

19,68

1043

13,04

64

0,8

90

1734

19,26

1143

12,73

69

0,77

100

1893

18,93

1242

12,42

74

0,74

110

2047

18,6

1334

12,13

78

0,7

120

2189

18,24

1419

11,83

81

0,68


Рисунок 5.2 -Залежність заряду перемикання від прямого струму для діодів КД242, КД 202 та Д226

Рисунок 5.3 - Залежність часу життя від прямого струму для діодів КД242, КД 202 та Д226


Таблиця 5.2 - Відносна зміна часу життя для діодів Д242, КД202 та Д226

Прямий струм, мА

КД242 (f=160Гц)

КД202 (f=160Гц)

Д226 (f=5000Гц)


τ,мкс

τ,мксτ,мкс





10

21,97

1

15,08

1

0,99

1

20

21,67

0,99

14,8

0,98

0,96

0,97

30

21,34

0,97

14,52

0,96

0,93

0,94

40

21,01

0,96

14,23

0,94

0,9

0,9

50

20,69

0,94

13,95

0,93

0,88

0,89

60

20,35

0,93

13,65

0,9

0,85

0,86

70

20

0,91

13,35

0,89

0,82

0,83

80

19,66

0,89

13,05

0,87

0,8

0,8

90

19,3

0,88

12,75

0,85

0,77

0,77

100

18,95

0,86

12,43

0,83

0,74

0,75

110

18,59

0,85

12,13

0,8

0,7

0,7

120

18,22

0,83

11,8

0,78

0,68

0,69

Страницы: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7



Реклама
В соцсетях
рефераты скачать рефераты скачать рефераты скачать рефераты скачать рефераты скачать рефераты скачать рефераты скачать